詳細介紹
Brinell
DIN EN ISO 6506, ASTM E-10
HBW 1/1
HBW 1/2.5
HBW 1/5
HBW 1/10
HBW 1/30
HBW 2.5/6.25
HBW 2.5/15.6
HBW 2.5/31.25
HBW 2.5/62.5
HBW 2.5/187.5
HBW 5/25
HBW 5/62.5
HBW 5/125
HBW 5/250
HBW 10/100
HBW 10/250
HBT (not acc. to standards
Vickers
DIN EN ISO 6507, ASTM E-384, ASTM E92
HV 1
HV 2
HV 3
HV 5
HV 10
HV 20
HV 30
HV 50
HV 100
HVT (not acc. to standards)
Rockwell
DIN EN ISO 6508, ASTM E-18
HRA - HRV
HR15-N/T/W/X/Y
HR30-N/T/W/X/Y
HR45-N/T/W/X/Y
Knoop
DIN EN ISO 4545, ASTM E-92, ASTM E-384
HK1
HK2
Plastics
DIN EN ISO 6507, ASTM E-92, ASTM E-384
49.03 N
132.9 N
357.9 N
961 N
集成的測試結果轉換: DIN EN ISO 18265, DIN EN ISO 50150
測試臺通過穩(wěn)固、超精密的滾珠軸承絲杠導軌調節(jié)。堅固的免維修結構,配有精致的黑色鍍鉻手輪控制。所有EVO系列的設備都提供直徑25mm的臺面底座。(可選?“的適配器)
對于無法使用壓頭保護罩夾持的樣品,無需耗費時間來更換/拆卸保護罩。只需要手動或者電動控制來將保護罩升起或者放下。此外,這里還能十分簡單的更換成客戶需要壓頭保護附件。
更大面積的載物平臺和V型槽載物臺可以對那些異常大或者球形以及表面不夠平坦的樣品來進行硬度測試。
所有的Qness 250/750/3000 EVO 設備都標配有2位轉塔 – 簡單并提供給測試頭和物鏡或XLED空間 – 是測試要求比較固定時的理想選擇
歸功于壓頭快速釋放機制,可以實現極為便捷,無需工具的壓頭更換
光學系統已*重新開發(fā)。它在QATM的無塵車間內建造并受益于公司全面的專業(yè)知識。所有新的產品系列都共享同一個通用顯微鏡系統,在可視范圍0.1mm至8mm之間,都能提供最大的清晰度以及對比度。新的QATM照明系統可以確保整個圖片的照明均勻,而且無論選用哪個的放大倍數都沒有暗邊。
新的EVO產品系列擁有更優(yōu)的測試參數、更快的Windows 10 系統、更短的序列自動對焦時間、更快的亮度調節(jié)與圖像分析、甚至更少的操作噪音——所有這些都有助于在日常硬度測試中更快地完成測試循環(huán)。
XLED照明模塊*革新了布氏壓痕的分析。由于市售物鏡有限,軟材料的布氏壓痕尤其容易受到不精確測量結果的影響。相比之下,由于直接和廣泛的照明,XLED鏡頭可確保材料的精確和可重復測量,無論其類型與硬度如何。
具有以太網數據傳輸功能的高品質CMOS 500萬像素攝像頭定義了當前的工業(yè)標準。與其他相機系統不同,在此可以實現更高的傳輸穩(wěn)定性。此外,電腦和硬度測試設備可以遠距離進行遠程設置。在控制基礎設施安裝在外部開關柜里的制造環(huán)境中,這一切是理想的。
12英寸超平電容式觸摸顯示屏可通過球形和插座式接頭平穩(wěn)地升降和傾斜,符合人體工程學的優(yōu)化使用。
多種多樣的夾具和裝配工具選擇,能夠滿足各類樣品對輔助裝夾的需求。 可選的透明防撞裝置在預防設備上測試區(qū)域不受來自外部破壞的同時,還能確保用戶可以不受限制地去觀察測試空間。
現代的多點觸控操作適于簡單的縮放和便捷的菜單導航。
在一個屏幕上清楚地概覽所有最重要的功能確保用戶友好,而且最重要的是,保證測試結果清楚地按重要性排列。
數據管理
多種統計功能:條形圖,折線圖,柱狀圖
將測試結果導出為XML或CSV文件
每個壓痕的詳細信息
測試報告可以以Excel,Word,PDF導出或直接打印
可以對序列操作自動導出和刪除
QPIX T2軟件
操作簡便
通過環(huán)形光源進行明場或暗場下的全自動圖像分析
標配的4倍變焦減少了鏡頭的切換
快速自動聚焦
手動重新測量
支持的測試方法 | 布氏,維氏,洛氏,努氏,塑料測試 |
測試力范圍 | 250 CS型號: 1 - 250 kg (9.81 - 2450 N) 750 CS型號: 0.3 – 750 kg (2.94 – 7358 N) 3000 CS型號: 0.3 - 3000 kg (2.94 - 29430 N) |
高度調節(jié) | 手動/絲杠 |
測試高度/喉深 | 175 / 220 mm |
測砧 | ? 100 mm |
最大允許工件重量 | 無限制 |
主機重量 | 250 kg |
測試序列 | 全自動/電子力控制 |
相機系統/圖像傳輸 | 5百萬像素 Ethernet 工業(yè)標準/可達270FPS |
轉塔 | 2位(標準)或8位(轉塔) |
軟件 | Qpix T2 (可選: Qpix CONTROL 2 M) |
操作系統/硬盤 | Windows 10 IoT / 128 GB SSD |
數據界面 | 1x USB (前部) 4x USB, 2x RJ45 (Ethernet), 1x Disp... |
物鏡 | XLED 1, XLED 2, XLED 5, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x |
視場(取決于選擇的工具) | 0.113x 0.084 mm (100x) up to 7.98 x 5.97 mm (XLED 1) |
顯示 | 12“電容觸屏 |
電源供應 | 230~1/N/PE, 110~1/N/PE |
最大功耗 | ~ 480 W |
附加選項 | 設計底座,防沖撞保護,交叉激光,測砧,V型夾具,數據連接,二維碼/條形碼閱讀器等。 |
支持的測試方法 | 布氏,維氏,洛氏,努氏,塑料測試 |
測試力范圍 | 型號 250 C: 1 - 250 kg (9.81 - 2450 N) 型號 750 C: 0.3 – 750 kg (2.94 – 7358 N) 型號3000 C: 0.3 - 3000 kg (2.94 - 29430 N) |
高度調節(jié) | 手動/絲杠 |
測試高度/喉深 | 395 / 220 mm |
測砧 | ? 100 mm |
最大允許工件重量 | 無限制 |
主機重量 | 300 kg |
測試序列 | 全自動/電子力控制 |
相機系統/圖像傳輸 | 5百萬像素 Ethernet 工業(yè)標準/可達270FPS |
轉塔 | 2位(標準)或8位(轉塔) |
軟件 | Qpix T2 (可選: Qpix CONTROL 2 M) |
操作系統/硬盤 | Windows 10 IoT / 128 GB SSD |
數據界面 | 1x USB (前部) 4x USB, 2x RJ45 (Ethernet), 1x Disp... |
物鏡 | XLED 1, XLED 2, XLED 5, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x |
視場(取決于選擇的工具) | 0.113x 0.084 mm (100x) up to 7.98 x 5.97 mm (XLED 1) |
顯示 | 12“電容觸屏 |
電源供應 | 230~1/N/PE, 110~1/N/PE |
最大功耗 | ~ 480 W |
附加選項 | 設計底座,防沖撞保護,交叉激光,測砧,V型夾具,數據連接,二維碼/條形碼閱讀器等。 |
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